SNJ54BCT8244AFK
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUF
| 參數(shù)名稱 | 參數(shù)值 |
|---|---|
| Product Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device with Buffers |
| Supply Voltage | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | -55°C ~ 125°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
| Package / Case | 28-CLCC |
| Supplier Device Package | 28-LCCC (11.43x11.43) |
新聞資訊
Texas Instruments 專業(yè)邏輯 產(chǎn)品 SNJ54BCT8244AFK
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